CSC目視檢查燈NP-5:高精度潔凈檢測(cè)的“工業(yè)顯微鏡"
——3400流明HID光源,讓5μm微粒無(wú)所遁形
3400流明HID光源(35W功率)相當(dāng)于普通LED燈的3倍亮度,即使在全暗環(huán)境中:
可清晰捕捉10μm空中懸浮微粒(相當(dāng)于PM2.5的1/25大?。?/span>
表面5μm附著顆粒顯像如"夜空中的星辰"(對(duì)比普通燈光僅能見≥50μm顆粒)
案例:某半導(dǎo)體車間用NP-5發(fā)現(xiàn)晶圓傳送帶上3μm的硅粉殘留,避免百萬(wàn)級(jí)批次數(shù)事故
光學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)**>90%光線集中度**(普通泛光燈僅40-60%):
光斑直徑30cm@1m距離時(shí),邊緣衰減<5%
特別適合潔凈室墻面/設(shè)備表面的垂直缺陷檢測(cè)(如0.1mm級(jí)劃痕)
濾鏡類型 | 波長(zhǎng)范圍 | 典型應(yīng)用場(chǎng)景 |
---|---|---|
標(biāo)準(zhǔn)白光 | 400-700nm | 常規(guī)微粒/劃痕檢測(cè) |
紫外線截止 | <400nm屏蔽 | 光敏材料環(huán)境安全檢查 |
純紫外模式 | 365nm | 有機(jī)殘留物熒光顯影 |
實(shí)戰(zhàn)場(chǎng)景:
制藥廠灌裝線:紫外模式快速定位肉眼不可見的潤(rùn)滑劑纖維污染
液晶面板廠:白光+45°斜照檢出玻璃基板納米級(jí)壓痕
參數(shù) | 普通手電筒 | 商業(yè)檢測(cè)燈 | NP-5 |
---|---|---|---|
可檢測(cè)最小微粒 | ≥100μm | ≥30μm | ≥5μm |
光強(qiáng)穩(wěn)定性 | 30分鐘衰減15% | 8小時(shí)衰減5% | 12小時(shí)衰減<3% |
多光譜支持 | 無(wú) | 部分型號(hào) | 3模式可切換 |
? 半導(dǎo)體/面板廠:預(yù)防微塵導(dǎo)致的短路/亮點(diǎn)缺陷
? 無(wú)菌制藥企業(yè):符合FDA對(duì)A潔凈區(qū)的檢測(cè)要求
? 精密光學(xué)組件:鏡頭鍍膜前的清潔驗(yàn)證
? 航天材料檢測(cè):復(fù)材表面微觀裂紋排查
現(xiàn)在升級(jí)NP-5,您將獲得:
德國(guó)TüV認(rèn)證的10萬(wàn)小時(shí)超長(zhǎng)壽命光源
符合ISO 14644-1 Class 5潔凈度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
防靜電機(jī)身設(shè)計(jì)(表面電阻<10?Ω)